ForschungForschungsprojekte
Stochastische Strukturen

Stochastische Strukturen

Jahr:  2011

Im Rahmen des AiF[1]–Projektes „Stochastische Strukturen“ wird die Auswirkung stochastischer Defekte auf die Funktion von Radial-Wellendichtringen (RWDR) untersucht. Am Projekt nehmen zwei Forschungsstellen teil: Das Institut für Mess- und Regelungstechnik (IMR) und das Institut für Maschinenelemente, Konstruktionstechnik und Tribologie (IMKT) der Leibniz Universität Hannover. Das Ziel des gesamten Projektes ist die Beurteilung von stochastischen Oberflächenschäden im Hinblick auf das Funktionsverhalten von RWDR. Hierbei sind insbesondere die Auswirkungen solcher Strukturen auf Leckage und Verschleiß gemeint. Zusätzliches Ziel des IMR ist ein fertigungsnahes Multisensorsystem zur Erfassung von kritischen Oberflächenfehlern zu entwickeln.

Für die Erkennung stochastischer Defekte auf RWDR-Gegenlaufflächen sind Messverfahren notwendig, die geometrische Strukturen sowohl im Bereich von mehreren Millimetern (langwellige Defekte, z.B. Dellen) als auch im Bereich von wenigen zehntel Millimetern (kurzwellige Defekte, z.B. Kratzer) lateral erfassen können. Nach dem Vergleich unterschiedlicher Messmethoden fiel die Entscheidung auf einen Streulichtsensor zur Erfassung langwelliger Defekte und einen chromatischen Sensor zur quantitativen Bestimmung kurzwelliger Defekte.

Multisensorsystem scannt vorerst die Wellenoberfläche mit dem Streulichtsensor und misst langwellige Formabweichungen (Dellen). Parallel sind die kurzwelligen Defekte (Kratzer) mittels Streulichtsensor auch detektiert. Als zweiter Schritt misst der chromatische Sensor quantitativ die Kratzerparameter.

[1] Arbeitsgemeinschaft industrieller Forschungsvereinigungen „Otto von Guericke"

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